인장하중을 받을 때 PZT 웨이퍼의 크립 거동 : 실험과 모델링

김상주; 이창환

주제분류

...

저널정보

저자정보

김상주 (서울시립대학교)
이창환

이용수
내서재: 0

내서재에 추가
되었습니다. 내서재에서
삭제되었습니다.

이 논문의 연구 히스토리 (2)

2010

인장하중을 받을 때 PZT 웨이퍼의 크립 거동 : 실험과 모델링

김상주 , 이창환 대한기계학회 논문집 A권 2010.01 학술저널

2009

인장하중을 받을 때 PZT 웨이퍼의 크립 거동 : 실험과 모델링

김상주 , 이창환 대한기계학회 춘추학술대회 2009.04 학술대회자료

이 논문의 후속연구가 궁금하신가요?
연관 학술논문 또는 학술발표를 통해 보다 발전된 연구결과를 확인하실 수 있습니다.
이 논문의 연구 히스토리 확인하기

초록·키워드

오류제보하기

두께방향으로 분극처리되어 있는 상업용 PZT 웨이퍼가 폐쇄회로와 개방회로의 두 가지 전기적 경계조건에서 길이 방향으로 일정한 크기의 인장하중을 받는다. 하중과정 동안 두께 방향으로의 전기밀도와 평면내 변형률의 시간에 따른 변화를 측정한다. 두 가지 전기적 경계조건에서의 서로 다른 거동 특성을 시편 내부에서 발생하는 전기장과 분극역전 현상으로 설명한다. 마지막으로 관측된 크립 거동을 예측하기 위한 정규분포 형식을 가지는 자유에너지 함수를 도입하고 모델의 예측과 실험결과를 비교한다.

A commercially available soft PZT wafer that is poled in thickness direction is subjected to longitudinal tensile stress loading in both short and open-circuit conditions. Variations of electric displacement in thickness direction and in-plane strains are measured over time during the loading. Different material responses in the two electrical boundary conditions are explained by the effects of piezoelectrically produced internal electric field on linear material moduli and domain switching mechanisms. Finally, a free energy model of normal distribution is introduced to explain the observed creep behavior, and its predictions are compared with experimental observations.

#PZT Wafer(PZT 웨이퍼) #Tensile Load(인장하중) #Creep(크립) #Domain Switching(도메인 스위칭) #Normal Distribution(정규분포) #Constitutive Model(구성 모델)