Kurzfassung
Für die Untersuchung der Ultrastruktur von biologischen Zellen und Geweben ist die Elektronenmikroskopie ein wichtiges Hilfsmittel. Damit mit dieser Methode auch die Grenzfläche von biologischen Systemen und Werkstoffoberflächen gezielt untersucht werden kann, wurden in der vorliegenden Arbeit klassische Methoden der biologischen Präparation, die kritische Punkt- Trocknung und das Einbetten von kontrastierten Zellen in einem Polymer mit der Focused-Ion-Beam-Technik (FIB) kombiniert. Die Arbeiten wurden in einem Zwei-Strahl-Gerät durchgeführt, so dass die FIB-Präparation eines Querschnitts bei hoher Auflösung im Rasterelektronenmikroskop beobachtet werden kann. Es wird gezeigt, dass es möglich ist, Zellen und die Kontaktstellen der Zellen zu einem Substrat auf einer Sub-Mikrometer-Skala zu präparieren und abzubilden.
Abstract
Electron Microscopy is an important tool for ultra structure research of biological cells and tissue. To get access to the interface between biological systems and technical surfaces, we have combined classical methods of biological specimen preparation (critical point drying, embedding) with Focused Ion Beam (FIB) Technology. The work has been done in a system with two beams (electron and ion beam). So we could observe FIB milling at high resolution with the integrated scanning electron microscope. We show, that it is now possible to prepare and image single cells and contacts between a cell and a substrate at a sub micrometer scale.
Literatur/References
[1] Engelmann, H.J.; Volkmann, B.; Blum, W.; Zschech, E.: Prakt. Metallogr.39, (2002), 3, 117–12510.1515/pm-2002-390302Search in Google Scholar
[2] Lounatmaa, K.: European Congress on Electron Microscopy 2004, Antwerpen, Proceedings, 981Search in Google Scholar
[3] Stett, A.; Burkhardt, C.; Weber, U.; van Stiphout, P.; Knott, T.: Receptors and Channels9, (2003), 59–6610.1080/10606820308254Search in Google Scholar
[4] Meyle, J.; Gültig, K.; Hüttemann, W.; von Recum, A.;, Elssner, G.; Wolburg, H.; Nisch, W.: Z. Zahnärztl. Implantol.10, (1994) 51–60Search in Google Scholar
[5] Pfeifer, F.; Herzog, B.; Kern, D.; Scheideler, L.; Geiss-Gerstorfer, J.; Wolburg, H.: Micro and Nanoengineering67 – 68 (2003), 91310.1016/S0167-9317(03)00154-0Search in Google Scholar
[6] Zrenner, E.: Science295, (2002), 91710.1126/science.1067996Search in Google Scholar PubMed
[7] Burkhardt, C.; Nisch, W.: Prakt. Metallogr.41, (2004) 4, 190–19810.1515/pm-2004-410407Search in Google Scholar
© 2005, Carl Hanser Verlag, München
