题名：红外成像检漏技术在六氟化硫电气设备检漏工作中的应用

作者：李思;向宇;施永飞;

来源：

出版机构：同方知网（北京）技术有限公司

出版年:

DOI码：10.19768/j.cnki.dgjs.2023.08.034

注册时间：2023-06-12 10:05:56

以下是您获得的URL地址： https://link.cnki.net/doi/10.19768/j.cnki.dgjs.2023.08.034(境内) https://link.oversea.cnki.net/doi/10.19768/j.cnki.dgjs.2023.08.034(境外)