题名：Wiener过程性能退化电子产品的剩余寿命预测方法

作者：王书锋;王友仁;姜媛媛;

来源：

出版机构：同方知网（北京）技术有限公司

出版年:

DOI码：10.19651/j.cnki.emt.2014.05.005

注册时间：2018-01-03 17:47:19

以下是您获得的URL地址： https://link.cnki.net/doi/10.19651/j.cnki.emt.2014.05.005(境内) https://link.oversea.cnki.net/doi/10.19651/j.cnki.emt.2014.05.005(境外)