题名：基于缺陷俘获理论的CCD转移模型及应用

作者：闫晓鹏;危峻;汤瑜瑜;

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出版机构：同方知网（北京）技术有限公司

出版年:

DOI码：10.16818/j.issn1001-5868.2023021301

注册时间：2023-07-20 12:56:44

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