题名：高压GIS设备插接结构载流磨损特性研究和电接触性能劣化分析

作者：杨为;朱太云;靳守锋;任汀;谢韬;王青于;

来源：

出版机构：同方知网（北京）技术有限公司

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DOI码：10.16078/j.tribology.2022209

注册时间：2023-01-04 09:30:40

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