Abstract
Es wird eine Methode zur gleichzeitigen Messung des spezifischen Widerstandes und der Thermokraft aufgedampfter Metallfilme im Bereich der Raumtemperatur beschrieben.
Die Schichtdickenabhängigkeit des spezifischen Widerstandes, des Widerstandstemperaturkoeffizienten und der Thermokraft werden für ein Einbandmodell mit Hilfe der Weglängentheorie von Fuchs und Sondheimer bzw. der Theorie der Streuung an den Kristallitgrenzen diskutiert. Es zeigt sich, daß die an Nickelfilmen mit Schichtdicken zwischen 25 und 1000 Å gewonnenenen experimentellen Ergebnisse mit diesen Ansätzen qualitativ gut beschrieben werden können.
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