题名：14nm FinFET工艺下栅隔离型二极管的ESD防护性能研究

作者：王俊;

来源：

出版机构：同方知网（北京）技术有限公司

出版年:

DOI码：10.13911/j.cnki.1004-3365.220153

注册时间：2022-08-18 08:39:26

以下是您获得的URL地址： https://link.cnki.net/doi/10.13911/j.cnki.1004-3365.220153(境内) https://link.oversea.cnki.net/doi/10.13911/j.cnki.1004-3365.220153(境外)