表面科学
Online ISSN : 1881-4743
Print ISSN : 0388-5321
ISSN-L : 0388-5321
特集: イオンビームアナリシスの最前線
低速イオン,原子散乱分光による表面解析
梅澤 憲司
著者情報
ジャーナル フリー

2017 年 38 巻 4 号 p. 158-163

詳細
抄録

Low energy ion scattering spectroscopy is a powerful tool for the analysis of the topmost surface composition and structure. Low energy atom scattering spectroscopy is a quite useful tool for the analysis of the topmost insulator surfaces, as well. Because the primary beams of low energy atom scattering are electrically neutral. This report provides some of the basic principles relating to the interaction between low energy particles (ions/atoms) and topmost surfaces. Due to the large amount of research carried out in this field, selected materials are shown in this report.

Fullsize Image
著者関連情報

この記事はクリエイティブ・コモンズ [表示 - 非営利 4.0 国際]ライセンスの下に提供されています。
https://creativecommons.org/licenses/by-nc/4.0/deed.ja
前の記事 次の記事
feedback
Top