同位体顕微鏡

顕微鏡

Online ISSN : 2434-2386
Print ISSN : 1349-0958

同位体顕微鏡

高感度2次元イオン検出による結像型SIMS

圦本尚義

著者情報

キーワード: イメージング, 同位体, 2次イオン質量分析法, 荷電粒子, 固体撮像素子

ジャーナルフリー

2006 年 41 巻 2 号 p. 134-137

DOI https://doi.org/10.11410/kenbikyo2004.41.134

詳細

記事の1ページ目

著者関連情報

© 社団法人日本顕微鏡学会

お気に入り & アラート

関連記事

閲覧履歴

全文PDFは発刊から1年後にフリー公開いたします。J-Stageの仕様上、刊行から1年以内は、PDFをダウンロードする操作に対して「購読者認証」入力画面が表示されますが、本学会では「購読者認証」の機能は使用しておらず、この期間は会員・非会員を問わずPDFを閲覧することはできません。予めご理解の程よろしくお願い申し上げます。

前身誌

電子顕微鏡

Top