ИЗУЧЕНИЕ ПРОЦЕССОВ ЛОКАЛЬНОЙ АККУМУЛЯЦИИ ЗАРЯДА В ПЛЕНКАХ ZRO2(Y) С НАНОЧАСТИЦАМИ AU МЕТОДОМ КЕЛЬВИН-ЗОНД-МИКРОСКОПИИ
Методом сканирующей кельвин-зонд-микроскопии исследована временнáя динамика пространственного распределения электронов, локально инжектированных из зонда атомно-силового микроскопа в тонкие (толщиной менее 10 нм) пленки ZrO2(Y) с внедренными наночастицами Au на подложках Si. Получены и проанализированы профили потенциала поверхности пленок, наведенного инжекцией счетного числа (несколько десятков) электронов в наночастицы Au в зависимости от времени, прошедшего после инжекции.