Beitrag zur physikalischen Matrixkorrektur bei der Röntgenfluorescenzanalyse von Massen- und Spezialgläsern auf silicatischer Basis

Summary

A physical method is described for correcting matrix effects in X-ray fluorescence analysis of various types of glasses. For correction are used relative complex mass absorption coefficients, which consider the absorption of exciting and measured radiation and the geometry of spectrometer. The exciting radiation is assumed as an effective energy. The physical model required the exact separation or mathematical precorrection of the influences of the apparatus, respectively of the spectral influences. The developed program for computation permits also the calibration for special elements without base of standards by reference to other elements. Only one standard with a limited number of elements is needed. The accuracy is the same as that of empirical correcting methods.

Zusammenfassung

Es wird über ein physikalisches Matrixkorrekturverfahren für die RFA mehrerer Glastypen berichtet. Zur Korrektur werden relative komplexe Massenschwä-chungskoeffizienten verwendet, die die Schwächung der anregenden und zu messenden Strahlung sowie die Spektrometergeometrie berücksichtigen. Das Konzept der effektiven Primärenergie wird realisiert. Das Korrekturmodell setzt die exakte Abtrennung bzw. rechnerische Korrektur apparativer und spektraler Einflüsse voraus. Das erarbeitete Rechenprogramm gestattet es, die Eichwerte bestimmter Elemente auf andere Elemente zu übertragen. Es wird nur eine Eichprobe benötigt. Die erzielte Richtigkeit entspricht derjenigen mathematisch-empirischer Matrixkorrekturverfahren.