Zusammenfassung
Zur Beseitigung der unelastisch gestreuten Elektronen in Elektronenbeugungsdiagrammen und elektronenmikroskopischen Abbildungen wurde die Gegenfeld-methode weiterentwickelt. Das Resultat sind „Netz“- und „Linsen“-Filter hoher Trennschärfe und Bildpunktzahl, mit deren Hilfe der inkohärente Untergrund von Elektronenbeugungsdiagrammen unterdrückt und der Kontrast und das Auflösungsvermögen elektronenmikroskopischer Abbildungen verstärkt werden können.
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Boersch, H. Gegenfeldfilter für Elektronenbeugung und Elektronenmikroskopie. Z. Physik 134, 156–164 (1953). https://doi.org/10.1007/BF01329408
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DOI: https://doi.org/10.1007/BF01329408