Zusammenfassung
Ein Verfahren zur Bestimmung von 19 Verunreinigungen im Bereich von l -100 ppm wird beschrieben. Bei der Bestimmung von hochflüchtigen Elementen (wie As, Pb, B, Cd) wird BaF2 (5%) als Puffer verwendet, während für wenig flüchtige Elemente (wie V, Ti, Cr, Fe) ein Gemisch der Probe mit Graphit (1∶1) benutzt wird. In jedem Falle werden 30 mg Gemisch im 10 A-Gleichstrombogen 20 sec angeregt. Die Spektren wurden mit einem 3,4 m-JACO-Gitter-Spektrograph mit einer reziproken Dispersion von 2,5 Å/mm aufgenommen. Als innere Standardlinien dienten Ga 2450,07 Å sowie Mn 2551,8 Å und 3106,7 Å. Die durchschnittliche Standardabweichung betrug für die meisten Elemente ± 10%.
Summary
An emission spectrographic method for quantitative estimation of 19 impurities in manganese dioxide in the range 1–100 ppm is described. BaF2 (5%) is used as buffer for estimation of high volatile elements such as As, Pb, B and Cd. For low volatile elements like V, Ti, Cr and Fe, a mixture of sample with graphite (1∶1) is used. In both methods, 30 mg of the mixture is excited in 10 A d.c. arc for 20 see. Spectra are recorded on a 3.4 m JACO grating spectrograph with a reciprocal dispersion of 2.5 Å/mm. Ga 2450.07 Å and Mn 2551.8 Å and 3106.7 Å are used as internal standard lines. The average standard deviation for most of the elements is ±10%.
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Job, V.A., Kartha, S.B., Krishnamurty, G. et al. Spectrographic analysis of high purity manganese dioxide. Z. Anal. Chem. 271, 26–28 (1974). https://doi.org/10.1007/BF00437485
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